相控阵校准测量
为各类相控阵测量提供完整解决方案，包括近场测量（平面/柱面/球面）、远场测量、紧缩场测量，测试精度高，测试效率快。
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近场测量
近场测量
包括水平/垂直平面近场测量（单探头、多探头）、柱面近场测量、球面近场测量，可对待测产品近场空间幅相数据采样，近远场变换推算远场方向图数据。
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远场测量
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紧缩场测量
为各类相控阵测量提供完整解决方案，包括近场测量（平面/柱面/球面）、远场测量、紧缩场测量，测试精度高，测试效率快。
包括水平/垂直平面近场测量（单探头、多探头）、柱面近场测量、球面近场测量，可对待测产品近场空间幅相数据采样，近远场变换推算远场方向图数据。
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