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    产品概述

    伺服传感器自动化测量系统主要由上料机构、常温测试机构、高低温测试机构等组成。

    主要用于混合集成电路伺服系列电路自动测试,实现伺服系列电路的全参数自动测试及数据存储、计算、分析管理等功能,提高伺服系列电路测试效率及产能,降低人工成本,提高经济效益。

    产品特点

    • 集成化高
    • 高效
    • 操作便捷

    产品功能

    • 产品正反面信息识别、绑定
    • 端口测试
    • 常温测试
    • 高低温测试

    典型指标

    • 信息识别时间<6s,准确率≥98%
    • 测试效率≥200件
    • 测试机构运动精度≤±0.05mm
    • 温箱满足温控范围-70℃~150℃
    • 温差≤±2℃@(-70℃~100℃)
    • 温差≤±4℃@(100℃~150℃)
    • 温度均匀性≤±2℃;波动度≤±0.5℃
    • 升温时间20℃~150℃≤30min,降温时间20℃~70℃≤50min
    • 满足试验标准GB/T1-2001
       

    应用

    电路板、传感器等小型电子元器件性能测试

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